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三綜合試驗箱

三綜合試驗箱

產品詳情



使用設備

      該三綜合試(shi)(shi)驗(yan)箱適用于(yu)各種產品(pin)的(de)部(bu)件和材料(liao)適應(ying)性(xing)測試(shi)(shi)。電(dian)器、儀(yi)表、部(bu)件、電(dian)子(zi)、電(dian)工、汽車、航空(kong)、移動通信、塑料(liao)制品(pin)、機械(xie)、硬件工具(ju)等,可(ke)在各研究所和企業事業單(dan)位實(shi)驗(yan)室進行可(ke)靠(kao)性(xing)、耐久(jiu)性(xing)測試(shi)(shi)。

三綜合試驗箱的結構。

三(san)綜合試驗箱的柜體采用(yong)數控(kong)機床加工成型,外形美觀,無反作(zuo)用(yong)柄,操作(zuo)簡(jian)單。

內膽(dan)和外(wai)膽(dan)均(jun)采用先進的SUS304不(bu)(bu)銹鋼拉(la)絲箱(xiang),外(wai)膽(dan)均(jun)采用先進的SUS304不(bu)(bu)銹鋼拉(la)絲箱(xiang)或A3鋼板噴塑成型,表面紋(wen)理(li)清晰,潔凈度(du)高。

三綜合試驗箱的照(zhao)明(ming)觀察(cha)箱保(bao)持明(ming)亮,利(li)用加熱(re)體嵌入強(qiang)化(hua)玻璃,隨時觀察(cha)箱內的明(ming)暗(an)。

三綜合試驗箱左側(ce)有直徑50mm或100mm的(de)檢(jian)測(ce)孔,可用于檢(jian)測(ce)電源(yuan)或信號線的(de)外部連接。

控制器(controller)


冷凍及風路循環系統(Refrigeration and air circulation system)



型號規格Model and specification

經國家環境試驗設備質量監督檢測中心檢測,符合“環境試驗設備技術條件”系列國家標準中的:

GB/T2423.1—2008《電工電子產(chan)品基本環境(jing)試驗(yan)規程》  試驗(yan)A:低溫試驗(yan)方法(fa)

GB/T2423.2—2008《電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品基本(ben)環境(jing)試驗(yan)規程》  試驗(yan)B:高溫試驗(yan)方法

GB/T2423.3—2008《電工電子(zi)產品基本環境試驗規程》  試驗Cab:恒定濕熱試驗方(fang)法(fa)

GB/T2423.4—2008《電工電子(zi)產品基(ji)本環境試驗(yan)規(gui)程(cheng)》 試驗(yan)Db:交變濕熱試驗(yan)方法

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備
GB2423.22-87 電工電子產品基本試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產品基本試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2423.4-91電工電子產品基本試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工(gong)電子產品基本環境試驗(yan)規程 高溫(wen)低溫(wen)試驗(yan)導則

GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試(shi)驗(yan)方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB150.9 (MIL-STD-810D)濕(shi)熱試驗方(fang)法

GB/T10586-89 濕熱試驗箱(xiang)技術(shu)條件

GB/T10589-89 低(di)溫試驗箱技(ji)術條(tiao)件

GB/T11158-89 高溫試(shi)驗箱技術條件

 


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