設(she)備用途(tu)（Equipment usage）

高低溫交變濕(shi)熱試(shi)驗箱適(shi)用于考核各(ge)種產(chan)品零(ling)部(bu)件(jian)和材料及(ji)家(jia)用電器(qi)、儀器(qi)、儀表、元器(qi)件(jian)、電子、電工(gong)及(ji)汽車、航空、手機(ji)(ji)通訊(xun)、摩(mo)托(tuo)車、塑膠、機(ji)(ji)械(xie)、五金工(gong)具在高溫、低溫和濕(shi)度(du)環境條件(jian)下(xia)的(de)適(shi)應性試(shi)驗，可供(gong)各(ge)種科研機(ji)(ji)構(gou)及(ji)企事業(ye)單(dan)位試(shi)驗室做可靠性及(ji)耐久性試(shi)驗。

高(gao)低溫(wen)交變濕(shi)熱試驗箱(xiang)(xiang)箱(xiang)(xiang)體結構

高低溫交變濕(shi)熱試驗箱控制器(qi)

高低溫(wen)交變濕熱試(shi)驗箱(xiang)冷凍及風路循環系統

型號規格Model and specification

經國家環境試驗設備質量監督檢測中心檢測，符合“環境試驗設備技術條件”系列國家標準中的：

GB/T2423.1—2008《電(dian)工(gong)電(dian)子產品基本環境試(shi)驗規程》  試(shi)驗A：低溫(wen)試(shi)驗方法(fa)

GB/T2423.2—2008《電工電子產品基(ji)本環(huan)境試驗規(gui)程》  試驗B：高溫試驗方法

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備
GB2423.22-87 電工電子產品基本試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電(dian)工(gong)電(dian)子產品基(ji)本環境試(shi)驗(yan)規程 高溫低溫試(shi)驗(yan)導(dao)則(ze)

GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗方(fang)法

GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗方(fang)法

GJB150.9 (MIL-STD-810D)濕(shi)熱(re)試驗方法

GB/T10586-89 濕熱試(shi)驗箱技術條件

GB/T10589-89 低溫試驗箱技(ji)術(shu)條(tiao)件

GB/T11158-89 高溫試驗箱技術條件(jian)